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場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）

場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）

場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）

儀器型號：JSM-7001F

￥ 200.00

現場實驗

型號：JSM-7001F

肇慶市華師大光電產業研究院

肇慶市華師大光電產業研究院

所在地區：肇慶市四會市大旺高新區創新創業科學園

進入機構

肇慶市華師大光電產業研究院

產品詳情
所有評價

詳細信息

儀器簡介?

可提供形貌觀察、元素分析、不導電樣品鍍金膜服務、電子束曝光刻蝕

掃描電子顯微鏡分辨率(二次電子像):不低于0.8nm/15kV
能譜檢測極限:0.1%
電子束曝光刻蝕: pmma典型可做到50-100nm

?

? 服務流程

? 樣品要求

1.粉末、液體、薄膜、塊體均可。

2.尺寸要求：塊體樣品<2x2x1cm

3.磁性樣品和非磁性樣品均可進行測試。

?

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