場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）
儀器型號：JSM-7001F
￥
200.00
現場實驗
肇慶市華師大光電產業研究院
儀器簡介?
可提供形貌觀察、元素分析、不導電樣品鍍金膜服務、電子束曝光刻蝕
掃描電子顯微鏡分辨率(二次電子像):不低于0.8nm/15kV
能譜檢測極限:0.1%
電子束曝光刻蝕: pmma典型可做到50-100nm
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? 服務流程
? 樣品要求
1.粉末、液體、薄膜、塊體均可。
2.尺寸要求：塊體樣品<2x2x1cm
3.磁性樣品和非磁性樣品均可進行測試。
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