儀器簡介?
可提供形貌觀察、元素分析、不導電樣品鍍金膜服務、電子束曝光刻蝕
掃描電子顯微鏡分辨率(二次電子像):不低于0.8nm/15kV能譜檢測極限:0.1%電子束曝光刻蝕: pmma典型可做到50-100nm
?
? 服務流程
? 樣品要求
1.粉末、液體、薄膜、塊體均可。
2.尺寸要求:塊體樣品<2x2x1cm
3.磁性樣品和非磁性樣品均可進行測試。